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半導體/電子製造產業

在半導體和電子製造業中,對材料的潔淨度要求極高,特別是在晶圓製造、蝕刻、化學機械研磨(CMP)等製程中。任何微量污染物,如金屬離子或顆粒,皆可能導致晶片缺陷,影響最終產品的良率。

因此,製程中所使用的化學品、氣體和水必須達到超高純度,以確保製造環境的潔淨。

ESG
Circular Economy
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流體自動化光學檢測
流體自動化光學檢測
流體自動化光學檢測
全自動微流影像分析儀
> 100nm
濕製程微污染自動化檢測
濕製程微污染自動化檢測
濕製程微污染自動化檢測
多通道液體粒子檢測系統
先進製程液態材料分析
先進製程液態材料分析
先進製程液態材料分析
臨場電子顯微鏡觀測模組
> 7nm
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材料潔淨度分析

製程良率的最源頭根源,來自良好純淨的原材料投入,一切是否合規符合訴求及標準品質,全數仰賴採購單位及原材料供應商不只保量更嚴謹把控品質的安心,不管是酸性、鹼性、膠性、混合性等液態材料就讓邑流微測來支援您從源頭監控做起。

採購單位QC 單位材料供應商
進料品質投料潔淨度
IPACMP slurryCMP cleaner
材料潔淨度分析
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材料研發分析

隨 AI 更前瞻性的運用,晶片細緻微小化及兼顧 ESG 與地球生態共好的前提下,搭載更具高效率、低排碳、低損耗、極純淨的製程設計甚至是原材料的替換耐受優質韌性,都考驗著研發實驗單位,引導我們實踐更好的未來,就讓邑流微測來支援您從突破點升級做起。

研發單位材料供應商
原料耐受性原料替換關係
團聚性穩定性
材料研發分析
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製程化學槽潔淨

好的研發設計技術、優質的原物料投入更需搭載隨時保持最佳潔淨狀態的設備環境:製程化學槽、反應化學槽,就以環境有道理的參數來進行比經驗常理研判更有力量的監控管理,洞察。

廠務單位設備單位
化學液更換頻率化學槽清洗指數
Particle
製程化學槽潔淨
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製程潔淨/良率分析

在半導體及電子製造中有很多種類的濕式製程,邑流可依照訴求藉由顆粒數量、類型、特質等度量指標協助達成良率監控、製程品質、投料管理、損耗管理、更替管理。

研磨製程 (CMP)最在乎的是表面平整度與顆粒污染控制,確保材料表面光滑且無損傷,避免微小顆粒導致後續製程缺陷。

電鍍/化鍍製程最在乎的是鍍層均勻性與化學純度,確保鍍層的厚度均勻且無污染物,避免影響導電性和後續加工。

水洗製程最在乎的是去除化學殘留與顆粒,確保所有化學品及微小顆粒被徹底清除,避免污染後續製程。

蝕刻製程最在乎的是蝕刻速率與選擇性,確保蝕刻精度,避免過度蝕刻或損傷關鍵層,影響結構完整性。

剝膜製程最在乎的是去除效率與不損傷基材,確保光刻膠等膜層被完全移除且基材無損傷,為後續製程做好準備。

生產單位產線單位設備單位
瑕疵分析污染分析製程潔淨確保
氣泡Particle
製程潔淨/良率分析