2022/07/26
客戶故事
30 秒看瓶頸
- 無法有效檢測產線微奈米汙染物。
- 現有解決方案無法滿足一機台多通道量測。
- 多點量測需消耗大量人力 & 經費。
- 無法有效追蹤歷史資料。
- 無法比對良率與製程液體汙染物情況。
30 秒看效益
- 節省人力及機台設備成本。
- 提供多通道（多點製程）即時監測。
- 智慧化產線品質履歷追蹤。
- 紀錄過濾器功效，預判濾心壽命。
- 可設定汙染物預警規格。
高品質和高良率一直是台灣半導體產線最為重視的議題。台灣知名半導體封裝與測試製造大廠熟知，在半導體零件清洗製程中，去離子水的潔淨度是良率是否能夠提升的關鍵之一。但現有的解決方案卻很難同時滿足多點位、即時性的濕製程微汙染檢測。
透過半導體檢測設備商：邑流微測的解決方案提升品質、良率
客戶表示：「如果我們要同時作到多點位的量測，必須大幅追加預算和人力的成本。追加以後，現行的做法也只能記錄液體中是否有異物或異常。但邑流微測的解決方案可以有效增加零件清洗製程的效率，對於提升良率確實有很大的幫助。」
為了滿足此一半導體封裝測試大廠的需求，邑流微測整合雷射感測技術以及精密的多通流道，以 1µm 的檢測能力搭配每分鐘30ml流量， 提供自動化、24 小時不間斷分析監測。導入半導體檢測設備商：邑流微測的解決方案後，客戶便依據不同產線需求，快速判讀微粒子數量的變化、掌握水質與處理槽系統的狀態等。
客戶特別提到，邑流微測是一支很能理解客戶需求的半導體檢測設備商，濕製程材料檢測本身就是個較有難度的議題。為了同時作到多點位監測，客戶也接觸過好幾家廠商，但往往受限於預算成本。而邑流微測則能在不斷地溝通和測試中，抓到技術和客戶需求的平衡點，在維持成本預算的狀況下，解決了目前產線上的急痛點，不僅達到即時回傳相關數據，還可進一步建立生產品質履歷，作為比對良率與製程液體微汙染的歷史資料庫，絕對是值得推薦的微汙染管控解決方案。
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